Обратная связь
Приставка ДОЭ для настольных СЭМ (EBSD для SEM) - E-Flash XS от Bruker
Приставка ДОЭ для настольных СЭМ (EBSD для SEM) - E-Flash XS от Bruker

Приставка ДОЭ для настольных СЭМ (EBSD для SEM) - E-Flash XS от Bruker

НЕДОРОГАЯ ПРИСТАВКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ФАЗОВОГО СОСТАВА НАНО И МИКРООБЛАСТЕЙ С ПРИСТАВКОЙ EBSD (ДОЭ) - УСТАНАВЛИВАЕТСЯ НА НАСТОЛЬНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ МИКРОСКОПЫ 
  • Описание

E-Flash XS 

Простота есть основа утонченности!


Чтобы значительно увеличить количество лабораторий, способных приобрести интегрированную систему EDS & EBSD, Bruker Nano Analytics разработала e-Flash XS, уникальный детектор EBSD, предназначенный для доступной части рынка SEM. Детектор e-Flash XS EBSD был специально разработан для установки на SEM с низкой занимаемой площадью, например на настольных SEM и стандартных SEM с небольшими камерами.

Наш опыт EBSD был использован для разработки самого надежного и самого доступного детектора EBSD, одновременно обеспечивая превосходную производительность. Разработанная для максимальной надежности, простоты использования и качества рисунков, e-Flash XS оснащена CMOS-камерой с поддержкой биннинга, инновационной оптической системой для максимальной передачи света и высокопроизводительным заменяемым пользователем люминофорным экраном. Подключение к компьютеру через USB3.0 (питание и данные) делает e-Flash XS по-настоящему подключаемым инструментом. Когда не используется, часть в SEM детектора EBSD сдвигается для внешнего хранения, чтобы исключить любой риск столкновения стадии SEM с детектором.

Новый E-Flash XS EBSD детектор интегрирован с XFlas 6-го поколенияДетектор h ® EDS под программным обеспечением ESPRIT 2 для создания QUANTAX ED-XS , мощной комбинации аналитических методов для рынка SEM начального уровня.


Важные характеристики

Imaging Technology чип: CMOS
разрешение изображения Родной: 720 х 540 пикселей
Поддерживаемые режимы биннинговые: 2x2, 3x3, 4x4, 5x5, 6x6
Скорость: 525 кадров / сек (кадров в секунду) во всех режимах биннинговых
Сменная головка детектора - вставной & - Механизм вывода 
Сменный пользователем люминофорный экран
EBSD для передачи данных и питания через кабель USB 3.0 (дополнительные кабели или коробки не требуются)
Наружные размеры: длина ~ 84 мм, диаметр ~ 48 мм


E-Flash XS
Новый e-Flash XS, самый надежный и доступный детектор EBSD


Основные преимущества (аппаратное и программное обеспечение)


  • Простота использования

    • Калибровка не требуется - влияние изменения WD на центр шаблона автоматически корректируется
    • Изменение разрешения биннинга / шаблона не требуется; все режимы биннинга доступны при необходимости
    • Автоматическое усиление камеры
    • Автоматическая настройка кристаллической фазы - вмешательство пользователя не требуется
    • Отсутствие риска случайного ввода детектора EBSD в стадию
    • Сменный пользователем люминофорный экран
    • Автономное и одновременное получение карт EDS HyperMap и EBSD, включены
    • Автоматическое сохранение данных
    • Автоматическое отключение EHT в конце получения карты выбирается пользователем

  • Новые пользователи могут обучаться и практиковаться в EDS и EBSD с меньшими временными ограничениями.
  • Качество подготовки образца можно проверить перед сеансом EBSD на дорогой FE-SEM.
  • Выполните рутинный анализ EBSD на доступных SEM, чтобы уменьшить отставание FE-SEM


Примеры применения


Корреляция статистики зерна с различными свойствами по промышленным сплавам


Рис. 1.1 Модель качества карты, изображающая микроструктуру образца из сплава Ni с бимодальным распределением размеров зерен; карта была получена с помощью e-Flash XS EBSD детектора, установленного на JSM IT200 SEM
Рис. 1.1 Модель качества карты, изображающая микроструктуру образца из сплава Ni с бимодальным распределением размеров зерен; карта была получена с помощью e-Flash XS EBSD детектора, установленного на JSM IT200 SEM





Рис. 1.2 Карта ориентации кристаллов образца из никелевого сплава, отображающая ориентацию каждого зерна путем соотнесения цветового кода, описанного в верхнем левом углу, с нормалью поверхности образца; Скорость захвата: 510 кадров / с, ноль решений: 1,3%. Нет данных
Рис. 1.2 Карта ориентации кристаллов образца из никелевого сплава, отображающая ориентацию каждого зерна путем соотнесения цветового кода, описанного в верхнем левом углу, с нормалью поверхности образца; Скорость захвата: 510 кадров / с, ноль решений: 1,3%. Очистка данных не применяется!





Рис. 1.3 Подмножество карты EBSD из никелевого сплава, показывающей случайным цветом все зерна с эквивалентным диаметром более 70 микрон; 1% от общего числа зерен составляет ~ 42% площади карты
Рис. 1.3 Подмножество карты EBSD из никелевого сплава, показывающей случайным цветом все зерна с эквивалентным диаметром более 70 микрон; 1% от общего числа зерен составляет ~ 42% площади карты







Рис. 1. 4 Подмножество карты EBSD из никелевого сплава, показывающей случайным цветом все зерна с эквивалентным диаметром менее 70 микрон; Есть 2250 зерен, представляющих ~ 58% площади карты
Рис. 1. 4 Подмножество карты EBSD из никелевого сплава, показывающей случайным цветом все зерна с эквивалентным диаметром менее 70 микрон; Есть 2250 зерен, представляющих ~ 58% площади карты





Рис.1.5.a): гистограмма распределения зерен по размерам и средний размер зерен, рассчитанные с использованием среднего арифметического; медианное значение для размера диаметра зерна также рассчитывается и отображается автоматически, а также общее количество зерен, учитываемых в статистике.
Рис.1.5.a): гистограмма распределения зерен по размерам и средний размер зерен, рассчитанные с использованием среднего арифметического; медианное значение для размера диаметра зерна также рассчитывается и отображается автоматически, а также общее количество зерен учитывается в статистике





Рис.1.5.b): гистограмма распределения зерен по размерам и средний размер диаметров, рассчитанные с использованием взвешивания по площади, то есть более крупные зерна оказывают большее влияние на значение среднего диаметра. Для материалов с бимодальным распределением размеров зерна, используя площадь, мы
Рис.1.5.b): гистограмма распределения зерен по размерам и средний размер диаметров, рассчитанные с использованием взвешивания по площади, то есть более крупные зерна оказывают большее влияние на значение среднего диаметра. Для материалов с бимодальным распределением размеров зерен рекомендуется использовать удельную площадь при попытке соотнести значение среднего размера диаметра зерна с механическими свойствами, например, прочностью, жесткостью, твердостью и т. Д.







Характеристика микроструктурных особенностей в нержавеющих сталях


Рис.2.1: Карта качества образца, изображающая микроструктуру образца из нержавеющей стали; Карта была получена с использованием детектора e-Flash XS EBSD, установленного на JSM IT200 SEM.
Рис.2.1: Карта качества образца, изображающая микроструктуру образца из нержавеющей стали; Карта была получена с использованием детектора e-Flash XS EBSD, установленного на JSM IT200 SEM.






Рис.2.2: Карта распределения фаз, показывающая фазу феррита в красном и фазу аустенита в зеленом; соотношение фаз составило 39% и 61% соответственно; время отображения: 18: 01 мин., размер карты: 548 000 пикселей, ноль решений: 5,7%. Очистка данных не применяется!
Рис.2.2: Карта распределения фаз, показывающая фазу феррита в красном и фазу аустенита в зеленом; соотношение фаз составило 39% и 61% соответственно; время отображения: 18: 01 мин., размер карты: 548 000 пикселей, ноль решений: 5,7%. Очистка данных не применяется!






Рис.2.3: Карта средней разориентации зерна (GAM), показывающая, что некоторые регионы / зерна содержат большее изменение ориентации, чем другие, значения которых увеличиваются от синего до красного (15 градусов)
Рис.2.3: Карта средней разориентации зерна (GAM), показывающая, что некоторые регионы / зерна содержат большее изменение ориентации, чем другие, значения которых увеличиваются от синего до красного (15 градусов)








Рис.2.4.a): Подмножество GAM-карты для фазы аустенита, показывающее, что большинство зерен практически не содержат изменений внутренней ориентации; поскольку изменение ориентации внутри зерна часто связано с его состоянием деформации, можно использовать такие результаты для изучения эффективности
Рис.2.4.a): Подмножество GAM-карты для фазы аустенита, показывающее, что большинство зерен практически не содержат изменений внутренней ориентации; поскольку изменение ориентации внутри зерна часто связано с его состоянием деформации, можно использовать такие результаты для изучения влияния таких параметров, как температура, на микроструктуру во время термомеханических производственных процессов, например горячей прокатки, экструзии или ковки.






Рис. 2.4.b) Подмножество GAM-карты для ферритовой фазы, показывающее, что ферритовые зерна содержат большие изменения внутренней ориентации; при сравнении с рис.2.4.а) появляется, как будто образец из нержавеющей стали подвергался процессу термомеханического формования
Рис. 2.4.b) Подмножество GAM-карты для ферритовой фазы, показывающее, что ферритовые зерна содержат большие изменения внутренней ориентации; при сравнении с рис.2.4.а) создается впечатление, что образец нержавеющей стали был подвергнут термомеханическому процессу формования, который привел к динамической рекристаллизации аустенитных зерен, в то время как зерна феррита испытали только восстановление.









Определение фазы и анализ распределения малоизвестных многофазных материалов


Рис.3.1: Карта качества рисунка, изображающая микроструктуру высоколегированного Fe-Si керамического композита; Карты EBSD и EDS были получены одновременно с использованием e-Flash XS и, соответственно, детектора XFlash EDS, установленного на JSM IT200 SEM.
Рис.3.1: Карта качества рисунка, изображающая микроструктуру высоколегированного Fe-Si керамического композита; Карты EBSD и EDS были получены одновременно с использованием e-Flash XS и, соответственно, детектора XFlash EDS, установленного на JSM IT200 SEM.





Рис.3.2. Карта качества рисунка, наложенная на карту фазы, на которой зерна Si показаны красным цветом; чтобы минимизировать время, необходимое для настройки измерения EBSD на образцах с неизвестным типом и числом фаз, можно запустить сбор данных без идентификации всех фаз;
Рис.3.2. Карта качества рисунка, наложенная на карту фазы, на которой зерна Si показаны красным цветом; чтобы минимизировать время, необходимое для настройки измерения EBSD на образцах с неизвестным типом и числом фаз, можно запустить сбор данных без идентификации всех фаз; все другие фазы могут быть определены в автономном режиме, в более позднее время и завершить карту, используя экстремальные возможности переиндексации программного обеспечения ESPRIT





Рис.3.3: Принцип работы функции «Advaced Phase ID», используемой в автономном режиме (часть I); Множество автоматических и полуавтоматических функций помогают пользователю в этом процессе, например, полуавтоматический поиск кандидатов на фазы по результатам ЭЦП, автоматический
Рис.3.3: Принцип работы функции «Advaced Phase ID», используемой в автономном режиме (часть I); Множество автоматических и полуавтоматических функций помогают пользователю в этом процессе, например, полуавтоматический поиск кандидатов на фазы по результатам EDS, автоматическое и сверхбыстрое индексирование всех возможных фаз, автоматическая классификация на основе качества соответствия экспериментальному шаблону и т. д.







Рис.3.4: Принцип работы функции «Advaced Phase ID», используемой в автономном режиме (часть II); области, окрашенные в «аква», представляют собой зерна силикона циркония (ZrSi2); Карта была повторно проанализирована за 13 секунд со скоростью более 24 000 точек / сек.
Рис.3.4: Принцип работы функции «Advaced Phase ID», используемой в автономном режиме (часть II); области, окрашенные в «аква», представляют собой зерна силикона циркония (ZrSi2); Карта была повторно проанализирована за 13 секунд со скоростью более 24 000 точек / сек.





Рис. 3.5: Принцип работы функции «Расширенный идентификатор фазы», ​​используемой в автономном режиме (часть III); полная фазовая карта высоколегированного Fe-Si керамического материала, содержащего шесть различных кристаллографических фаз; повторный анализ с 6 фазами занял 48 секунд со скоростью
Рис. 3.5: Принцип работы функции «Расширенный идентификатор фазы», ​​используемой в автономном режиме (часть III); полная фазовая карта высоколегированного Fe-Si керамического материала, содержащего шесть различных кристаллографических фаз; повторный анализ с 6 фазами занял 48 секунд со скоростью более 6500 точек / сек. Очистка данных не применяется!





Рис.3.6: EDS HyperMap, показывающая распределение карт Ti, Ca, Zr, Ag и C в высоколегированной Fe-Si керамике; карта содержит один спектр EDS для каждого из его 309 000 пикселей и была получена одновременно с картой EBSD со скоростью 50 точек / с; Ag и C
Рис.3.6: EDS HyperMap, показывающая распределение карт Ti, Ca, Zr, Ag и C в высоколегированной Fe-Si керамике; карта содержит один спектр EDS для каждого из его 309 000 пикселей и была получена одновременно с картой EBSD со скоростью 50 точек / с; Области, богатые Ag и C, представляют собой трещины или пористости в образце, заполненном пастой Ag и эпоксидным материалом во время полировки.






Подробные видео о нашем оборудовании смотрите на канале
youtube_banner
Заказать звонок

Укажите свой контактный телефон, и мы перезвоним вам в ближайшее время

Свяжитесь с нами
Прикрепить свои файлы