Обратная связь
D2 PHASER
D2 PHASER
D2 PHASER
D2 PHASER
D2 PHASER
D2 PHASER
D2 PHASER
D2 PHASER

D2 PHASER

НАСТОЛЬНЫЙ ПОРОШКОВЫЙ ДИФРАКТОМЕТР

• вертикальный гониометр Theta / Theta;
• генератор мощностью 300 Вт;
• компактный настольный прибор со встроенным компьютером;
• современные детекторы с энергетической дисперсией;
• положение образца: всегда в горизонтальной плоскости для исключения просыпания;
• загрузчик образцов: автосменщик образцов на 6 позиций (опция).

  • Описание
  • Техническое описание
  • Применение
  • Узнать еще больше

D2 PHASER - порошковый настольный дифрактометр 

D2 PHASER.png

• Фазовый анализ + количественный и качественный.

• Исследование на степень кристалличности.

• Определение параметров ячеек, размера кристаллитов.

• Определение структур кристаллов и напряжение в кристаллической решетке.

• Большой выбор конфигураций прободержателей для стандартного размера диаметром 51.5 мм , используемых для решения различных задач.

Уникальность прибора D2 PHASER характеризуется использованием линейного детектора LYNXEYE - для порошковой рентгеновской дифрактометрии.

Благодаря тому, что дифракционный прибор D2 PHASER предлагает увеличеную интенсивность спектра более чем в 150 раз, это относит его к дифракционной системе высокого класса.

Детектор LYNXEYE- типа позволяет сократить воздействие сильной флуоресценции на образец, преимущественно благодаря лучшему соотношению сигнала и фона. Это позволяет отказаться от использования вторичного монохроматора.


D2 PHASER Рентгеновская оптика.png

D2 PHASER может конфигурироваться для измерения фазового состава одной пробы или с каруселью для измерения 6 образцов методом рентгеновской дифракции.

  • Устройство смены образцов на 6 позиций, держатели диаметром 32 мм

  • Программируемое вращение исследуемого образца

  • Моторизованный и полностью интегрированный в ПО прибора DIFFRAC.SUITE

D2 Phaser карусель.png

Образец для порошковой дифракции помещается в пластиковую многоразовую кювету (насыпаем и разравниваем, если образец металла, то кладем на пластилин и сравниваем с верхним краем по высоте). Для использования с каруселью используются специальные металлические кюветы. 

D2 PHASER кюветы

D2 Phaser - встроенный экран (моноблок ПК) в дверцу дифрактометра.


D2 PHASER XE-T

Новейший высокотехнологичный детектор с энергетической дисперсией по длине волны 


LYNXEYE XE-T



Рентгеновская дифракция обеспечивает фазовый анализ без необходимости сложной пробоподготовки

Однако наилучшие аналитические результаты достигаются, когда подготовка образца и выбранный держатель соответствуют свойствам материала. Все держатели для образцов и монтажные инструменты предназначены для облегчения работы с различными материалами для XRD и обеспечения воспроизводимой подготовки образцов. Этот лист продукта дает обзор наших Держатели образцовдиаметром 32 мм доступны для D2 PHASER с 6-позиционным устройством смены образцов. В дополнение к показанным здесь держателям образцов по запросу могут быть реализованы специальные решения. 

Стандартные держатели образцов для D2 PHASER

Стандартные держатели образцов для легкой подготовки порошковых образцов, например геологических. Твердые куски, например стальные монеты устанавливаются на правильную высоту образца в глубоких держателях, что позволяетизбежать пиковых сдвигов.

Стальные держатели образцов с различной глубиной приема образцов для порошковых или твердых образцов.

A26D332 (набор из 6 шт.)
Образец приема: Ø 25 мм, глубина 1 мм.
Держатели образцов с низким уровнем фона A26D330 (набор из 6 шт.)
Образец приема: Ø 28 мм, глубина 3 мм A26D333 (набор из 6 шт.)
Образец приема: Ø 28 мм, глубина 4,5 

D2 Phaser держатели образцов

Фармацевтические соединения и другие слабоабсорбирующие материалы лучше всего готовить на низкофоновых кремниевых держателях, что сводит к минимуму уширение пиков, связанное с образцом.

Держатель Si с низким уровнем фона для небольших количеств образцов, плоский или с полостью.
A26B52 (1 шт.)
С плоской вставкой Si. Приемник проб: Ø 25 мм, плоский
A26B60 (1 шт.)
С Si-вставкой с полостью. Образец приема: Ø 20 мм, глубина 0,5 мм

D2 Phaser держатели образцов

Герметичные держатели образцов 

Чувствительные к воздуху и влаге образцы можно защитить с помощью ряда воздухонепроницаемых держателей, накрыв их, например, каптоновая пленка. Эти держатели также ограничивают контактоператора с опасными химическими веществами.

Доступен как стандартный держатель, так и со вставкой для низкого фона Si. Для подготовки образца требуется отдельный монтажный инструмент A26B54.
A26D339 (набор из 6 шт.)
Образец приема: Ø 21,5 мм, глубина 1,5 мм
A26B53 (1 шт.) A26D337 (набор из 6 шт.) С плоской Si-вставкой. Приемник пробы: Ø 21,5 мм, плоский

A26B54
Монтажный инструмент для герметичных держателей образцов. Требуется для A26D339, A26B53, A26B65
A26B65 (1 шт.) A26D338 (набор из 6 шт.)
С Si-вставкой с полостью. Образец приема: Ø 20 мм, глубина 0,5 мм

D2 Phaser держатели образцов

Держатели образцов для дифракции с обратной загрузкой 

Изменения пиковой интенсивности, возникающие из-за эффектов предпочтительной ориентации, можно уменьшить с помощью метода обратной нагрузки, который улучшает случайную ориентацию кристаллитов.

Стальные держатели образцов для обратной загрузки. Требуется отдельный монтажный инструмент A26B63 для пробоподготовки.
A26D334 (набор из 6 шт.)
Образец приема: Ø 25 мм, глубина 2,5 мм

A26B63
Монтажный инструмент для держателей образцов с обратной загрузкой. Требуется для A26D334.

A26D336
Монтажный инструмент для держателей образцов фильтровальной бумаги. Требуется для A26D335.

D2 Phaser держатели образцов

Держатели анализируемых образцов фильтровальной бумаги

Специальный держатель образца для измерения фильтровальной бумаги, например для применений после кварца NIOSH 7500. Включает опорную пластину из алюминия, которую можно использовать для коррекции поглощения.

Держатель образца подходит для фильтровальной бумаги диаметром 25 мм. Требуется отдельный монтажный инструмент A26D336.
A26D335 (набор из 6 шт.)
Образец приема: Фильтровальная бумага Ø 25 мм

D2 Phaser держатели образцов

Держатели изучаемых образцов глины

Подходит для установки ориентированных предметных стекол глины на правильную высоту образца, сводит к минимуму сдвиг пиков и облегчает идентификацию фаз. 

Специальные стальные держатели образцов для предметных стекол из ориентированной глины. Необходимый монтажный инструмент и 12 стеклянных слайдов входят в комплект A26B69.

A26B69 (набор из 6 шт.)
Образец приема:
Стеклянная горка Ø 25 мм. В комплекте 12 стеклянных слайдов.
Монтажный инструмент для держателей образцов глины. Входит в A26B69.

D2 Phaser держатели образцов

Переходное кольцо держателя образца

Адаптер для установки держателей образцов Ø 32 мм на предметных столиках, поддерживающих держатели образцов Ø 51,5 мм.
A26D340 (1 шт.)
Переходное кольцо на держателе образцов Ø 32 мм.

D2 Phaser держатели образцов

Анализ цемента на дифрактометре

csm_S2PU_Industries_Cement_Building_Materials_001_9813ac1b61.jpg

В тесном партнерстве с цементной промышленностью Bruker постоянно повышает эффективность своих аналитических решений.

Анализ пыли кремнезема с помощью рентгеновской дифракции

Дифрактометр демонстрирует его использование для мониторинга профессионального воздействия присутствия вдыхаемого диоксида кремния.

Количественный фазовый анализ клинкеров OPC

Дифрактометр демонстрирует его использование для количественного определения фазы обычных портландцементных клинкеров.


Минералы и добыча


csm_mining_c4ca9b697e.jpg

Bruker предлагает передовые решения рентгеновской дифракции для надежной поддержки геологов и разведчиков в поиске и анализе месторождений в любое время и в любом месте.

Количественный фазовый анализ образцов гипса / ангидрита на D2 Phaser

BRUKER демонстрирует его использование для определения различных сульфатных фаз в природном гипсе или ангидрите.

Анализ пыли кремнезема

Применение метода рентгеновской дифракции для мониторинга профессионального воздействия присутствия диоксида кремния.

 

Свойства материала 


csm_material-properties_8c87284051.jpg

D2 PHASER - это портативный настольный рентгеновский прибор для исследований и контроля качества. Например, можно исследовать кристаллические структуры, применяя подход фундаментальных параметров в программном обеспечении TOPAS, наноструктуры для быстрых и надежных измерений SAXS или микроструктуры (размер кристаллитов).

SAXS-анализ мезоскопического катализатора SBA-15 

Быстрые и надежные измерения SAXS материала, демонстрирующего большие d-расстояния до примерно 10 нм.

Кристаллическая структура Er-Melilite

D2 PHASER демонстрирует его использование для исследования кристаллических структур с применением подхода фундаментальных параметров в программном обеспечении TOPAS.

Анализ анодного кокса (значение Lc)

D2 PHASER демонстрирует его использование для быстрого и надежного определения размера кристаллитов.

Программное обеспечение для расшифровки дифрактограмм DIFFRAC.DQUANT: 

Нормативная количественная оценка остаточного аустенита

-> Метод коэффициентов, реализованный в DIFFRAC.DQUANT, и точные значения интенсивности, измеренные настольным дифрактометром фирмы Brucker D2 PHASER, позволяют точно определять уровни остаточного аустенита в стали.


Масло и газ

oil and gas, XRD

D2 PHASER - это мобильный настольный рентгеновский дифрактометр (XRD), используемый для идентификации как объемных, так и глинистых минералов в геологических образцах. Кроме того, дифракция XRD рентгеновских лучей является важным методом анализа пластов сланцевых пород, позволяющим получить качественную и количественную минералогическую характеристику.

Дифракция рентгеновских лучей в нефтехимической промышленности: идентификация набухающих глин с помощью D2 PHASER

Дифракция рентгеновских лучей в нефтехимической промышленности: минералогический анализ скважинных пластов с помощью D2 PHASER

Порошковый мобильный дифрактометр обеспечивает минералогический анализ бурового шлама из сланцевых пород с помощью D2 PHASER мобильного рентгеновского дифрактометра .


Двумерная дифракция на D2 PHASER

D2 PHASER - это самый продаваемый настольный дифрактометр с самой мощной линейкой детекторов. Использование этих передовых детекторов для сбора наборов двумерных данных для оценки эффектов подготовки образца, включая размер кристаллитов и предпочтительную ориентацию позволяет проводить эффективный рентгеноструктурный анализ.

Обычная проблема, с которой сталкиваются во время анализа пс помощью порошковой рентгеновской дифракции, заключается в том, чтобы образец состоял из случайно ориентированных кристаллитов с соответствующими размерами. Двумерная дифракция рентгеновских лучей - удобный способ визуализировать отклонения от этого идеального состояния порошка. При сборе двумерных данных интенсивность дифрагированной волны собирается как функция от 2q и наклона с однородностью линии при постоянном 2q, тесно связанном с микроструктурой образца. BRAGG2D - это запатентованная технология, использующая геометрию парафокусирующего луча с новым алгоритмом обработки двумерных данных (доступным в EVA V5), позволяющим освещать большую площадь образца полным рентгеновским пучком, что приводит к быстрой оценке подготовки образца.

Что такое BRAGG2D?

Двумерная дифракция может быть собрана двумя способами: традиционным XRD2 и BRAGG2D.

 D2 Phaser

Традиционный XRD2 использует точечный луч с наклоном

регистрируется в таком направлении, который перпендикулярен плоскости гониометра. XRD2 часто используется в напольных приборах с правильной коллимацией луча, детекторах большой площади и каскадах, способных к сложному движению для таких применений, как текстура, остаточные напряжения и высокая пропускная способность скрининга. Из-за отсутствия кондиционирования луча, приводящего к размазыванию кольца и невозможности контролировать угловое и пространственное положение, что касается малого пучка, то XRD2 не рекомендуется использовать в компактных дифрактометрических геометриях, где основным применением является идентификация фазы и количественная оценка.

BRAGG2D преодолевает эти проблемы, используя большой след луча Брэгга-Брентано в сочетании с асимметричной геометрией обнаружения 1D. Поскольку измеренный наклон находится в плоскости парафокусировки, достигается отличное разрешение по всему изображению. BRAGG2D использует тот же линейный фокус, расходящиеся щели и осевые соллеры, что и традиционное сканирование 1D.

В обоих случаях, Bragg2D и XRD, информация о морфологическое состояние образца собирается.

Для настольных инструментов предпочтительнее использовать BRAGG2D, поскольку благодаря ему обеспечивается максимальный сигнал и разрешение при использовании того же состояния луча, которое используется для последующей идентификации фазы и количественной оценки.

Изображения на Рис. 2 отображают проблемы, с которыми можно столкнуться при подготовке образцов. Тонкая, случайно ориентированная кристаллическая структура приводит к гладким линиям (вверху), образец с большими, случайно ориентированными кристаллитами покажет случайные пятна вдоль линии 2 тета (середина), а мелкозернистая ориентированная пленка на монокристаллической подложке покажет широкую полосу (внизу).


Подготовка проб D2 Phaser


геометрия по Брэггу-Брентано.

BRAGG2D примеры пробоподготовка, оценка.

BRAGG2D обеспечивает визуализацию качества пробоподготовки. Такие корректировки, как дополнительное шлифование или обратная загрузка, могут быть выполнены для повышения успеха в идентификации фаз и количественной оценке. На рис. показана монокристаллическая пластина, измельченная в мелкий порошок. 


D2 Phaser

По мере шлифования точечный рисунок преобразуется в однородные линии. Показатель заслуг (FoM) для поиска/соответствия Ge сильно коррелирует с однородностью линий.

Улучшенная Фазовая Идентификация

Морфология линий, наблюдаемая в BRAGG2D, может быть использована для корреляции линий, происходящих из одной и той же фазы. На рис.4 показана фазовая идентификация геологического образца с гладкими линиями, связанными с кальцитом, и шероховатыми линиями с кварцем.

Повышение Надежности Определения фазового состава

Классические методы количественной оценки, такие как подгонка рисунка S-Q и Ритвельд предполагают, что образец состоит из случайно ориентированных мелкодисперсных кристаллитов. Отклонения от этого условия могут быть приняты во внимание для уменьшения погрешности между измеренными данными и подгонкой, но это не уменьшает неопределенность до фактической величины фазы.

На рис.5 показаны БРЭГГОВСКИЕ и полуквантовые паттерны пригонки номинальной 50 мас.% смеси ибупрофена и сахарозы до и после измельчения. Полученная смесь показывает сильные точечные отражения от крупных кристаллитов сахарозы, приводящие к к плохой схеме подходят (РВП 85%) и завышение мас.% ибупрофена. После шлифования наблюдается четкая линейная картина и достигается улучшенная подгонка (RWP 24%) с полуквантовым результатом 46 мас.% ибупрофена ближе к ожидаемому номинальному значению.
Подробные видео о нашем оборудовании смотрите на канале
youtube_banner
Заказать звонок

Укажите свой контактный телефон, и мы перезвоним вам в ближайшее время

Свяжитесь с нами
Прикрепить свои файлы