Обратная связь
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL
M1 MISTRAL

M1 MISTRAL

Артикул: BRUKER M1 MISTRAL
НАСТОЛЬНЫЙ МИКРО РФА СПЕКТРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ И ИЗМЕРЕНИЙ ПО ROHS

• измерение толщины покрытий от 1 нм до 100 мкм с точностью арбитражного метода
• измерение элементов для контроля безопасности материалов по стандарту ROHS
• диапазон измерения элементов - от Ti до U для рентгеновской трубки с W-анодом мощностью 50 Вт
• диапазон измерения элементов - от Al до U для рентгеновской трубки мощностью 50 Вт с  Rh-анодом;
• детектор с разрешением < 150 эВ и площадью 30 мм кв.;
• автоматический коллиматор первичного пучка от 0,1 мм до 1,5 мм диаметром;
• моторизация столика по осям XY и автофокус по оси Z;
• встроенный видеомикроскоп с перекрестием для выделения области наведения;
• измерение образцов размером до 200x175x80 мм и весом до 1,8 кг.

  • Описание
  • Техническое описание
  • Характеристики
  • Применение
  • Преимущества

Компактный настольный микро-РФА спектрометр

M1 MISTRAL производства фирмы Bruker (Германия, Берлин) 

- это микро рентгенофлуоресцентный анализатор для измерения химического состава, толщины гальванических покрытий, покрытий из металлов, контроля элементов на соответствие нормам безопасности ROHS.


Измерение дорожек платы на M1 Mistral Измерение дорожек платы на M1 Mistral

Неразрушающий анализ изучаемых образцов произвольной формы

M1 MISTRAL - спектрометр для высокоточного лабораторного анализа объемных образцов и образцов покрытия. Работает по методу рентгеновского флуоресцентного анализа с малыми точками (Микро РФА). Работая в воздушной среде, все элементы от алюминия (Z = 13) и выше могут быть проанализированы с версией спектрометра с трубкой на основе анода Rh. Диапазон анализа с версией трубки с W-анодом начинается от калия (Z = 19). Это позволяет анализировать широкий спектр различных категорий образцов, а именно - металлы, их сплав и многослойные системы.

Можно анализировать даже большие образцы размером до 100x100x100 мм³. Обнаружение возбуждения и флуоресцентного излучения происходит вне контакта с образцом, сверху. Благодаря чему осуществляются измерения на образцах различной формы. Объектами анализа могут быть как плоские поверхности некоторых изделий, так и ювелирные украшения даже самой сложной формы.

Измерение на MISTRAL M1 с высоким пространственным разрешением

Спектрометр MISTRAL M1 оснащен рентгеновской трубкой с хорошей яркостью и микрофокусом, которая создаёт нужную высокую интенсивность возбуждения, даже если используется наименьший доступный коллиматор для получения пятна в 100 мкм. Места измерений точно определяются с помощью видеомикроскопа и дополнительной моторизованной ступени X-Y-Z. 

Оснащение самым современным детектором 

M1 MISTRAL оснащен детектором SDD - кремниевым детектором дрейфа. Он большой площади для превосходного разрешения по скорости и энергии. Система обнаружения сигналов и их обработки обеспечивает максимальную эффективность и высокую скорость анализа.

Мощное и простое программное обеспечение спектрометра M1 MISTRAL

XSpect / XData - программный пакет спектрометра осуществляет управление измерениями от сбора спектров, оценки результатов проводимых измерений и формирования выходного отчета. ПО производит стандартные измерения объемных образцов, используя либо количественную оценку по калибровками, либо модель фундаментальных параметров. 

Прост в использовании и не требует обслуживания

На приборе M1 MISTRAL и может работать персонал, прошедший даже только начальное обучение работе с системой. Программное обеспечение разработано максимально интуитивно и понятно. Расходные материалы не требуются.




Принцип измерения толщины покрытия рентгенофлуоресцентным методом на спектрометрах M1 Mistral

  • Рентгеновские лучи проникают через слой цинкового покрытия Zn и попадают в подложку Fe (основа сталь), генерируя рентгеновские сигналы элементов Zn и Fe.
  • По мере того как слой покрытия Zn становится толще, интенсивность Zn увеличивается с увеличением толщины Zn.
  • В конце концов, интенсивность становится нечувствительной к толщине, поскольку рентгеновские сигналы Zn с большей глубины поглощаются в самом толстом слое Zn.
  • Чем выше энергия фотона, тем толще пленки, которые можно анализировать.
  • Чем ниже энергия фотона, тем более чувствителен метод для более тонких слоев.

Принцип измерения толщины покрытия РФА методом

Диапазоны толщин покрытий для одного слоя

диапазон измерения толщин на M1 Mistral

Сравнение разных детекторов для анализа с M1 MISTRAL 


Сравнение спектров современного SSD детектора и пропорционального детектора для микро РФА толщиномеров
 
Сравнение спектров современного SSD детектора и пропорционального детектора для микро РФА толщиномеров


Спектры измерены с помощью SDD (красный) и счетчика пропеллеров (синий) 


M1 MISTRAL оснащен кремниевым детектором. Дрейфовый детектор SDD демонстрирует намного лучшее разрешение по сравнению с пропорциональным детектором. В этом примере применения сравнивается детектор SDD с датчиком другого типа, используемым в спектрометрах Микро-РФА, пропорциональным счетчиком.

Выбор детектора для спектрометра Micro-XRF должен основываться на наиболее частых аналитических задачах. Для анализа неизвестных или только частично известных образцов с гибким качественным составом и для обнаружения наименьших концентраций и самых тонких слоев наилучшим выбором являются твердотельные детекторы, такие как SDD и PIN-диод.


M1 Mistral - M4 Tornado Bruker

Типы покрытий для измерения на M1 Mistral:

  • Обычное гальваническое покрытие
  • Выборочное покрытие
  • Механическое покрытие
  • Оцинкованное покрытие
  • Распыление
  • Термическое напыление
  • Химическое и физическое осаждение из паровой фазы
  • Ионное покрытие
  • Хроматное конверсионное покрытие (неметаллическое)
  • Фосфатное покрытие (неметаллическое)

Типичные материалы и применения

Применение M1 Mistral

TiZr конверсионные покрытия

M1 Mistral Измерение покрытий

В автомобильной промышленности покрытие TiZ широко используется для стали (CRS, EG, HDG) и алюминия.
TiZr предлагает множество преимуществ по сравнению с традиционным трикатфосфатным покрытием:

  • Увеличение коррозионной стойкости
  • Устойчивость к соли
  • Уменьшение влияния на экологию
  • Снижение очистки сточных вод

Нанесение покрытий на медь

Покрытия серебра и олова на меди измерение на M1 Mistral
  • Покрытия Ag и Sn часто используются в разъемах питания и кабелях.
  • Серебряное покрытие на компонентах на основе меди обеспечивает высокую коррозионную стойкость и повышает его проводимость.
  • Типичная толщина покрытия Ag составляет от 5 до 45 мкм.

Измерение легких элементов в гальванических покрытиях


Измерение легких элементов в гальванических покрытиях на M1 Mistral



Новая опция рентгеновской трубки открывает множество применений для покрытий на легкие элементы, такие как безэлектродные Ni-P и фосфатные покрытия.“

Измерение химического состава растворов и электролитов гальванических ванн


Измерение состава растворов гальванических ванн на M1 Mistral

Чтобы наносить покрытия с правильной скоростью и составом покрытия, машиностроительный предприятия и гальванические цеха должны контролировать состав электролитов своих гальванических ванн.

Измерять химический состав драгоценных металлов, украшений, ювелирных изделий

Ювелирные изделия для анализа на содержание золота
Стоимость ювелирных изделий и других предметов из драгоценных металлов во многих случаях определяется содержанием в них драгоценных металлов. Поэтому для этих образцов большое значение имеет количественная оценка драгоценных металлов, таких как золото, серебро и платина. Больше информации

Материалы для контроля безопасности - стандарт ROHS

M1 MISTRAL RoHS приложение
Директива RoHS ограничивает использование конкретных опасные материалы в электронных продуктах.

M1 MISTRAL хорошо подходит для проверки тяжелых металлов и других ограниченных элементов. Он может анализировать содержание микроэлементов тяжелых металлов в электронных компонентах, пластике, сплавах и многих других материалах, чтобы гарантировать, что материал является экологически безопасным и соответствует директиве RoHS и другим нормам. Больше информации

Анализ покрытия - Металлическое покрытие смесителя для ванной комнаты


измерение толщины гальванических покрытий на M1 Mistral


Множество различных типов покрытий можно анализировать с помощью M1 MISTRAL. Область применения варьируется от обычных промышленных товаров до печатных плат, микроэлектроники и ювелирных покрытий. Больше информации

Измерение слоев на панелях солнечных батарей с использованием метода микро РФА и спектрометров M1 Mistral, M4 Tornado

M1 MISTRAL - Настольный микро-РФА спектрометр – это настольный спектрометр для анализа изделий и толщин покрытий с использованием метода рентгеновской флуоресценции.

Спектрометр позволяет проводить неразрушающий контроль в широком диапазоне
размеров образцов без специальной подготовки.
Области применения включают электронику, ювелирные изделия, RoHS, автомобилестроение и т. д.

Анализируйте образцы произвольной формы без необходимости их подготовки


M1 MISTRAL – это спектрометр для точного анализа целых образцов и толщин покрытий методом микро-РФА.
Метод позволяет исследовать широкий спектр различных материалов, таких как металлы, сплавы и металлические слои, в том числе многослойные системы.

Образцы размером до 100 × 100 × 100 мм могут быть помещены непосредственно на предметный столик и измерены без дополнительной подготовки. Поскольку измерение является
бесконтактным, а трубка и детекторы находятся сверху, можно легко проанализировать образцы произвольной формы – например, тонко обработанные ювелирные изделия или материалы различной толщины.

Измеряйте точно в том месте, где требуется

Микрофокусные рентгеновские трубки M1 MISTRAL генерируют достаточную интенсивность излучения даже при размере пятна на образце менее 100 мкм, а применение видеомикроскопа для точного позиционирования на образце гарантирует точный результат в требуемом месте.
Дополнительные опции включают возможность полной моторизации стола по осям XY и автоматический фокус по оси Z. Данные опции обеспечивают точное позиционирование на выбранном месте образца.

Программное обеспечение для получения оптимальных результатов измерений

Независимо от того, хотите ли вы произвести контроль качества образца известного стандарта или определить состав неизвестного образца, аналитическое программное обеспечение XSpect Pro и XData предоставляет возможность выполнить количественное измерение на основе
стандартных образцов или без них (на основе метода фундаментальных параметров) для любых типов материалов или толщин покрытий.
Сложные аналитические задачи можно автоматизировать с помощью программируемого стола с перемещением по осям XYZ, а измерение запускать одним щелчком мыши.

Сверхскоростные детекторы для получения быстрых результатов

M1 MISTRAL доступен с кремниевым дрейфовым детектором большой площади с высокими параметрами скорости счета и большим энергетическим разрешением, что позволяет снизить пределы обнаружения. Высокопроизводительный детектор, цифровая обработка импульсов и оптимизированные геометрические параметры рентгеновской оптики гарантируют максимальную эффективность, быстрые и точные результаты анализа.

Простота в использовании, не требует обслуживания

Конструкция M1 MISTRAL и аналитическое программное обеспечение позволяют работать с прибором даже персоналу, прошедшему только вводную подготовку. Для работы системы нужна
только розетка. Никаких расходных материалов или газов не требуется.
Прочная конструкция обеспечивает высочайшую стабильность измерения и не требует обслуживания.

Выбор областей применения

Спектр возможных применений M1 MISTRAL очень широк. В качестве примера
представлены три наиболее частых применения.
Анализ ювелирных изделий и драгоценных сплавов

M1 MISTRAL идеально подходит для анализа ювелирных изделий, монет или сплавов драгоценных металлов в целом.

Точный состав всех ювелирных сплавов, металлов платиновой группы или серебра можно определить за доли минуты. Результаты могут быть представлены в
процентах массовой доли или в пробе золота.

Определение соответствия по RoHS

M1 MISTRAL хорошо подходит для контроля безопасности материалов на наличие
вредных примесей.
Спектрометр может анализировать следовые количества тяжелых металлов в
электронных компонентах, пластмас-
сах, сплавах и многих других материалах для обеспечения соответствия стандарту
RoHS.

Измерение толщины покрытий

Технология рентгенофлуоресценции, используемая в M1 MISTRAL, позволяет эффективно измерять толщину покрытий, например, на печатных платах, металлах или пластмассах.
Система поддерживает исследование одно и многослойных покрытий. Программа одновременно рассчитывает толщину слоя, а также его состав, используя бесстандартный метод или специальные калибровки на основе стандартных образцов.

Можно проанализировать различные системы слоев по толщине и составу, например:

ƒ Zn/Fe
ƒ Au/Ni/Cu
ƒ Au/Pd/Ni/Cu
ƒ CuSn/Ni/Cu
ƒ Cr/Ni/Cu
ƒ Ni-P/Al

RoHS-контроль

  • ƒКонцентрация Pb, Hg, Cr6+, Br (PBB и PBDE) должна быть 1000 ppm
  • ƒКонцентрация Cd должна быть 100 ppm

M1 MISTRAL - Настольный микро-РФА спектрометр 

Технические характеристики


Параметр M1 MISTRALSDD

Рентгеновская трубка

Высокоэффективная рентгеновская трубка с микрофокусом

Аноды – вольфрам или родий

Высокое напряжение 50 кВ, 50 Вт

Детектор с охлаждением Пельтье, кремниевый дрейфовый детектор площадью 30 мм²,

энергетическое разрешение 150 эВ при Mn Ka

Диапазон элементов

По умолчанию: от Ti (Z = 22) с анодом из вольфрама
Опция: от Al (Z = 13) с анодом из родия

Размер пятна От 0,1 мм до 1,5 мм.
  
Автоматический сменщик коллиматоров

Цветное видеонаблюдение с высоким разрешением, увеличение ~ 30x

Столик для образцов
1) Моторизованный по оси Z столик с автофокусом, макс. ход – 120 мм
2) Моторизованный по осям XYZ столик с автофокусом и функцией EasyLoad

Макс. ход – 200 × 175 × 80 мм
Макс. нагрузка – 1,8 кг

Количественное измерение

Количественное и качественное измерение на основе калибровок по стандартным образцам или бесстандартные виды анализа на основе метода фундаментальных параметров

Питание От 110 до 230 В, переменный ток; 50/60 Гц, макс. мощность – 150 Вт

Габариты (Ш × Г × В) 550 × 680 × 430 мм
Вес 50 кг

Пакет аналитического программного обеспечения XSpect Pro

  • предоставляет следующие возможности:
  • ƒ управление спектрометром и сбор данных;
  • ƒ интерфейс с сенсорным экраном или обычной клавиатурой и мышью, по выбору пользователя;
  • ƒ управление отображением;
  • ƒ анализ толщины и состава слоев металлических покрытий;
  • ƒ количественный анализ состава, бесстандартные и стандартные эмпирические калибровки;
  • ƒ программа просмотра спектра с автоматической идентификацией пиков;
  • ƒ данные для статистического анализа (SPC);
  • ƒ генератор отчетов;
  • ƒ архив результатов.
Подробные видео о нашем оборудовании смотрите на канале
youtube_banner
Заказать звонок

Укажите свой контактный телефон, и мы перезвоним вам в ближайшее время

Свяжитесь с нами
Прикрепить свои файлы