НАСТОЛЬНЫЙ СПЕКТРОМЕТР ДЛЯ ЭЛЕМЕНТНОГО КАРТИРОВАНИЯ БОЛЬШИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ
• диапазон измерения элементов - от С до U в среде гелий или вакуум;
• первичный рентгеновский пучок от 10 мкм без потери интенсивности формируется с помощью поликапиллярной оптики;
• рентгеновские трубки с Rh-анодом
• рентгеновские трубки с анодами из Mo, Ag, Cu, W (опция);
• возможна одновременная установка двух рентгеновских трубок;
• детекторы площадью от 30 до 60 мм2 с энергетическим разрешением менее 145 эВ;
• возможна установка одновременно двух детекторов для высокой скорости сканирования;
• автоматические сменные коллиматоры первичного пучка диаметром от 0,1 до 1,5 мм;
• поликапиллярная оптика для первичного пучка диаметром от 10 мкм без потери интенсивности;
• возможна установка одновременно коллиматорной и поликапиллярной оптики с двумя рентгеновскими трубками;
• специальный моторизованный стол по осям XY с шагом от 2 мкм и непрерывным автофокусом;
• встроенный видеомикроскоп и обзорная камера «рыбий глаз»;
• камера размером 600x350x260 мм и стол размером 330x170 мм, образцы массой до 7 кг.
- Описание
- Техническое описание
- Характеристики
- Применение
M4 TORNADO PLUS является спектрометром, который использует метод микрорентгенофлуоресцентного анализа (микро-РФА).
Спектрометр обеспечивает неразрушающий метод химического анализ для различных типов проб, это могут быть нефтяные керны, куски геологических объектов, кости, предметы искусства, образцы керамик - любые образцы неправильной формы, а также микро включений в образце.
В рентгеновском микрорентгенофлуоресцентном спектрометре рентгеновский пучок фокусируется специальной поликапиллярной оптикой в пучок диаметром от 10 мкм. Это обеспечивает максимальную интенсивность без потери в точке т.к не используются коллиматорные ограничители. Применение такой оптики сохраняет интенсивность рентгеновского излучения, а не гасит его почти в 3 раза как оптика на основе коллиматоров.
Новая эра в микро-РФА
M4 TORNADOPLUS - первый в мире спектрометр Micro-XRF, который позволяет обнаруживать и анализировать весь диапазон элементов от углерода до америция. Будучи последним участником проверенного, лидирующего на рынке семейства анализаторов M4 TORNADO Micro-XRF, M4 TORNADOPLUS также предлагает дополнительные уникальные функции, такие как инновационная система управления диафрагмой, импульсный процессор со сверхвысокой пропускной способностью и гибкий быстросменный образец. сцена.
Super Light Element Detection - видение до углерода
Используя два кремниевых детектора дрейфа большой площади с окном сверхлегких элементов и специально оптимизированной Rh-рентгеновской трубкой, M4 TORNADOPLUS является первым в мире спектрометром Micro-XRF, который позволяет проводить анализ легких элементов. В отличие от обычных систем Micro-XRF, которые подходят для обнаружения элементов с повышенным содержанием натрия, M4 TORNADOPLUS позволяет также измерять элементы с атомными номерами Z <11, такие как фтор, кислород, азот и углерод, без ущерба для производительности и чувствительности в более высокие энергетические диапазоны. С этим повышением производительности открываются новые приложения для Micro-XRF, например, в геологии и горном деле, биологии, исследованиях полимеров или полупроводниковой промышленности.
Двойная пропускная способность - для более быстрых измерений
Уже в предыдущих версиях M4 TORNADO с двойным детектором были установлены тенденции в этом направлении, обеспечивающие скорость счета до 260 кбит / с с отличным энергетическим разрешением. Обладая уникальной способностью обрабатывать до 1200 кбит / с и обеспечивать скорость счета до 550 кк / с, M4 TORNADOPLUS значительно расширяет эти пределы, обеспечивая непревзойденную скорость и производительность сбора данных.
Система управления диафрагмой (AMS) - для большей глубины резкости и разрешения
Многие образцы, которые будут исследованы с использованием Micro-XRF, имеют топографические поверхности, а не идеально плоские. Поэтому, как и в фотографии, глубина резкости становится важным параметром для рентгеновской оптической системы, используемой для создания небольшого пятна возбуждения на поверхности образца. Обычно в анализаторах Micro-XRF с рентгеновской оптикой высокого пространственного разрешения (7 мкм) рабочее расстояние должно составлять всего 2 мкм, а достигаемая глубина поля составляет менее 1 мм.
Инновационная, управляемая программным обеспечением система управления диафрагмой (AMS) MOR TORNADOPLUS обеспечивает рабочее расстояние прибл. 9 мм и обеспечивает глубину резкости до прибл. 5 мм. Это означает, что пространственное разрешение не теряется, а элементы образца остаются в фокусе, даже если поверхность образца изменяется на несколько миллиметров. Это делает M4 TORNADOPLUS предпочтительным инструментом для анализа образцов с сильной топографией, например, в электронике, криминалистике или геологии.
Быстрый обмен образцами - для более простой, быстрой и безопасной обработки образцов
M4 TORNADOPLUS также предлагает быстросменный интерфейс ступени и дополнительные специальные бурильные колонны и держатели тонких профилей. Эти аксессуары позволяют быстро и надежно размещать и фиксировать образцы на съемной платформе, а также легко прикреплять или обменивать образцы для более быстрого и безопасного анализа, а также повторного анализа. Это экономит время как при обмене образцами, так и при настройке измерений, поскольку образцы всегда будут на одной высоте и в одном положении.
M4 TORNADOPLUS - первый в мире спектрометр Micro-XRF, который позволяет обнаруживать и анализировать весь диапазон элементов от углерода до америция. Будучи последним участником проверенного, лидирующего на рынке семейства анализаторов M4 TORNADO Micro-XRF, M4 TORNADOPLUS также предлагает дополнительные уникальные функции, такие как инновационная система управления диафрагмой, импульсный процессор со сверхвысокой пропускной способностью и гибкий быстросменный образец. сцена.
Super Light Element Detection - видение до углерода
Используя два кремниевых детектора дрейфа большой площади с окном сверхлегких элементов и специально оптимизированной Rh-рентгеновской трубкой, M4 TORNADOPLUS является первым в мире спектрометром Micro-XRF, который позволяет проводить анализ легких элементов. В отличие от обычных систем Micro-XRF, которые подходят для обнаружения элементов с повышенным содержанием натрия, M4 TORNADOPLUS позволяет также измерять элементы с атомными номерами Z <11, такие как фтор, кислород, азот и углерод, без ущерба для производительности и чувствительности в более высокие энергетические диапазоны. С этим повышением производительности открываются новые приложения для Micro-XRF, например, в геологии и горном деле, биологии, исследованиях полимеров или полупроводниковой промышленности.
Двойная пропускная способность - для более быстрых измерений
Уже в предыдущих версиях M4 TORNADO с двойным детектором были установлены тенденции в этом направлении, обеспечивающие скорость счета до 260 кбит / с с отличным энергетическим разрешением. Обладая уникальной способностью обрабатывать до 1200 кбит / с и обеспечивать скорость счета до 550 кк / с, M4 TORNADOPLUS значительно расширяет эти пределы, обеспечивая непревзойденную скорость и производительность сбора данных.
Система управления диафрагмой (AMS) - для большей глубины резкости и разрешения
Многие образцы, которые будут исследованы с использованием Micro-XRF, имеют топографические поверхности, а не идеально плоские. Поэтому, как и в фотографии, глубина резкости становится важным параметром для рентгеновской оптической системы, используемой для создания небольшого пятна возбуждения на поверхности образца. Обычно в анализаторах Micro-XRF с рентгеновской оптикой высокого пространственного разрешения (7 мкм) рабочее расстояние должно составлять всего 2 мкм, а достигаемая глубина поля составляет менее 1 мм.
Инновационная, управляемая программным обеспечением система управления диафрагмой (AMS) MOR TORNADOPLUS обеспечивает рабочее расстояние прибл. 9 мм и обеспечивает глубину резкости до прибл. 5 мм. Это означает, что пространственное разрешение не теряется, а элементы образца остаются в фокусе, даже если поверхность образца изменяется на несколько миллиметров. Это делает M4 TORNADOPLUS предпочтительным инструментом для анализа образцов с сильной топографией, например, в электронике, криминалистике или геологии.
Быстрый обмен образцами - для более простой, быстрой и безопасной обработки образцов
M4 TORNADOPLUS также предлагает быстросменный интерфейс ступени и дополнительные специальные бурильные колонны и держатели тонких профилей. Эти аксессуары позволяют быстро и надежно размещать и фиксировать образцы на съемной платформе, а также легко прикреплять или обменивать образцы для более быстрого и безопасного анализа, а также повторного анализа. Это экономит время как при обмене образцами, так и при настройке измерений, поскольку образцы всегда будут на одной высоте и в одном положении.
M4 TORNADO PLUS: Микро-РФА-спектрометр Super Light Element
The M4 TORNADOPLUS Micro-XRF spectrometer
Differentiating fluorite and calcite by detecting fluorine and oxygen
Второй рентгеновский трубчатый коллиматорный чейнджер - больше гибкости при анализе высокоэнергетических линий
Дополнительная вторая рентгеновская трубка с тонкой фокусировкой нового M4 TORNADOPLUS оснащена полностью управляемым программным обеспечением четырехпозиционным коллиматорным чейнджером, расширяющим гибкость размера пятна от 500 мкм до 4,5 мм. Это позволяет либо маленькое коллимированное пятно, хотя и с меньшей интенсивностью, либо большой спор высокой интенсивности для близкого к общему анализу XRF. Результат - большая гибкость при анализе больших структур или работе с высокоэнергетическими рентгеновскими линиями.
Многофункциональный управляемый компьютером He-Purge - анализ легких элементов без вакуума
Для некоторых образцов измерения под вакуумом представляют проблему, поскольку они чувствительны к изменению давления или могут высохнуть. Даже при том, что работа на воздухе всегда возможна, рентгеновская флуоресценция от легких элементов ниже Ca сильно ослаблена или даже полностью поглощена. Чтобы обнаружить легкие и сверхлегкие элементы вплоть до углерода и в чувствительных к вакууму образцах, M4 TORNADOPLUS предлагает дополнительную систему He-продувки с компьютерным управлением для расширения диапазона анализа при атмосферном давлении. Можно использовать два различных режима очистки, в зависимости от конкретных аналитических требований. Для быстрого одноточечного или многоточечного анализа достаточно локальной высокопроизводительной продувки позиции измерения, чтобы надежно получить низкоэнергетическое рентгеновское излучение.
Дополнительная вторая рентгеновская трубка с тонкой фокусировкой нового M4 TORNADOPLUS оснащена полностью управляемым программным обеспечением четырехпозиционным коллиматорным чейнджером, расширяющим гибкость размера пятна от 500 мкм до 4,5 мм. Это позволяет либо маленькое коллимированное пятно, хотя и с меньшей интенсивностью, либо большой спор высокой интенсивности для близкого к общему анализу XRF. Результат - большая гибкость при анализе больших структур или работе с высокоэнергетическими рентгеновскими линиями.
Многофункциональный управляемый компьютером He-Purge - анализ легких элементов без вакуума
Для некоторых образцов измерения под вакуумом представляют проблему, поскольку они чувствительны к изменению давления или могут высохнуть. Даже при том, что работа на воздухе всегда возможна, рентгеновская флуоресценция от легких элементов ниже Ca сильно ослаблена или даже полностью поглощена. Чтобы обнаружить легкие и сверхлегкие элементы вплоть до углерода и в чувствительных к вакууму образцах, M4 TORNADOPLUS предлагает дополнительную систему He-продувки с компьютерным управлением для расширения диапазона анализа при атмосферном давлении. Можно использовать два различных режима очистки, в зависимости от конкретных аналитических требований. Для быстрого одноточечного или многоточечного анализа достаточно локальной высокопроизводительной продувки позиции измерения, чтобы надежно получить низкоэнергетическое рентгеновское излучение.
Технические параметры
|
Типы образцов |
Твердые, частицы, жидкости |
|
Размер камеры образца |
ШхГхВ: 600 мм х 350 мм х 260 мм |
|
Столик |
Ш x Г: 330 мм х 170 мм, макс. весовая нагрузка: 7 кг |
|
Режимы измерения |
Вакуум без воздуха или масла, 20 мбар за 2 минуты, дополнительная система He-продувки |
|
Образец Максимум. Картирование Скорость |
ШхГхВ: 200 мм х 160 мм х 120 мм Ш x Г: 190 мм х 160 мм До 100 мм / с со ступенью TurboSpeed |
|
Обзор образцов |
2 одновременных живых изображения сверху с различными увеличениями для обзора образца и точного позиционирования Боковая камера типа «рыбий глаз» для обзора камеры образца |
|
Система возбуждения |
Высокотемпературная рентгеновская трубка с легкими элементами с поликапиллярной рентгеновской оптикой и системой управления диафрагмой (AMS) Опционально: 2-я трубка с четырехпозиционным коллиматорным чейнджером от 0,5 до 4,5 мм |
|
Параметры возбуждения Материалы анода Параметры трубки Размер пятна И фильтры фильтры |
Rh, опция Ag (для легких элементов), точная фокусировка: Rh, W, Mo, Cu, Cr 50 кВ, 30 Вт (40 Вт для коллиматора) Менее 20 мкм для Мо Kα (17,5 кэВ) с поликапиллярной линзой Апертуры 500 мкм и 1 мм, а также 6 фильтров 8 фильтров для коллиматора |
|
Детектор |
Сверхлегкие кремниевые детекторы дрейфа XFlash®, обнаружение от углерода и до америция, одновременное использование двух дектекторов |
|
Параметры обнаружения Чувствительная область Энергетическое разрешение пропускная способность |
2 х 60 мм2 <145 эВ при скорости счета ввода 600 000 с / с скорость подсчета на выходе до 550 000 cps |
|
Управление |
Современный компьютер, Windows 10 |
|
Функции управления прибором |
Полный контроль параметров трубки, фильтров, оптических микроскопов, освещения образца и позиционирования образца. |
|
Оценка спектров |
Идентификация пиков, коррекция артефактов и фона, расчет площади пиков, количественная оценка FP, калиброванная количественная оценка с использованием стандартных и нестандартных моделей с использованием XMethod |
|
Distribution analysis |
"On the fly" measurement, HyperMap capability |
|
Презентация результатов |
Результаты количественного анализа, статистическая оценка, распределение элементов (сканирование линий, картирование) |
|
Требования к мощности |
100-240 В (1 фаза), 50/60 Гц |
|
Габаритные размеры |
ШxГxВ: 815 мм x 680 мм x 580 мм, прибл. 130 кг (в зависимости от конфигурации) |
|
Качество и безопасность |
DIN EN ISO 9001: 2008, сертифицирован CE Полностью радиационная защита системы; излучение <1 мкЗв / ч |
Широкий спектр применения
Горное дело и полезные ископаемые, Наука о Земле
Возможность легкого элемента M4 TORNADOPLUS позволяет использовать его в геонауках и горном деле, позволяя дифференцировать карбонаты, оксиды, нитриты и флюориты.
Науки о жизни / Металломика
Спектрометр M4 TORNADOPLUS - это мощный инструмент для определения элементного состава любой биологической матрицы в клинических, фармацевтических и биологических приложениях.
Полупроводник и микроэлектроника
Благодаря возможности измерения легких элементов M4 TORNADO PLUS расширяет область применения в исследованиях полупроводников на основе нитридов и оксидов, а функция AMS позволяет сфокусировать электронные компоненты.
Контроль качества
Широкий спектр применения M4 TORNADOPLUS делает его очень подходящим инструментом для многих применений в области контроля качества и обеспечения, включая стекло и покрытие, разрушение, анализ цемента и керамики.
